GJB 2038-1994 雷达吸波材料反射率测试方法
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ID： |
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文件大小(MB)： |
0.53 |
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页数： |
14 |
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日期： |
2024-7-13 |
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中华人民共和国国家军用标准,FL 0122 GJB 2038-94,雷达吸波材料反射率测试方法,Methods for measurement of,reflectivity of radar absorbing material,1994—09—12 发布1995-04-01 实施,国防科学技术工业委员会批准,目 次,1范围.. (1),2引用文件. (1),3定义.. (1),4 一般要求 (2),5详细要求. (3),方法 101. (4),方法 102. (7),方法 103 .. (10),中华人民共和国国家军用标准,雷达吸波材料反射率测试方法 GJB 2038-94,Methods for measurement of reflectivity,of radar absorbing material,1范围,1.1 主题内容,本标准规定了测量雷达吸波材料反射率的基本要求和常用的三种方法,1.2 适用范围,本标准适用于8.18GHz频率范围内，雷达吸波材料反射率的测量。其他频段的雷达吸波,材料反射率测量亦可参照使用,2引用文件,QJ 1170-87研究试验文件管理制度研究试验文件的格式及填写要求,QJ 2222 —92目标特性和传输特性术语微波部分,3定义,3.1 术语,3.1 -1 雷达吸波材料反射率 radar absorbing material reflectivity,在给定波长和极化的条件下，电磁波从同一方向，以同一功率密度入射到雷达吸波材料平,面和良导体平面，雷达吸波材料平面与同尺寸良导体平面二者镜面方向反射功率之比为雷达,吸波材料反射率,3.1 .2 极化 polarization,对于空间一固定点，单频电场矢量，极化是描述电场矢端轨迹形状、位置及其旋转方向的,性质。电场矢端轨迹为直线段则为线极化,本标准规定入射线和反射线构成的平面为入射面，平行入射面的线极化为平行极化，垂直,入射面的线极化为垂直极化。当电磁波垂直材料样板入射时，则规定材料样板的参考线（见,4. 2. 3条）平行电场矢量的线极化为平行极化，垂直电场矢量的线极化为垂直极化,3.1 -3 背景等效反射率 equivalent reflectivity of background,本标准规定背景为微波暗室（或一般实验室）本身反射、材料样板支架反射和天线泄漏三,部分的综合响应，其功率电平为背景等效反射功率。背景等效反射功率与标准参考体反射功率,之比为背景等效反射率,3.1.4 RCS 法 the RCS method,国防科学技术工业委员会1994—09—12发布 1995-04-01实施,1,GJB 2038-94,一般在远场条件下,用金属球做为定标体，测量目标的雷达散射截面。按照该法原理，用标,准板做为定标体,测量同尺寸以金属板为衬底的平板RAM反射率的方法称为RCS法,3.2 缩写词,3. 2. 1 RAM Radar Absorbing Material 雷达吸波材料,3. 2. 2 RCS Radar Cross Section 雷达散射截面（见 QJ 2222）,4 一般要求,41标准板,a.标准板由良导体铝或铝合金做成；,b.标准板取正方形，边长大于5倍波长，小于15倍波长。本标准推荐使用180mmX,180mm X 5mm的标准板，尺寸公差为± 0. 05mm ；,c.表面粗糙度Ra的最大允许值为L6Mm；,d,表面平面度小于0. 05mm；,e.两表面平行度小于0. 08mm；,L板侧面相互垂直，板侧面与板面垂直，其垂直度小于0.05mm；,g.标准板材料的电导率大于3. 50X10?S/m,4.2 RAM样板,RAM样板均以良导体平板为衬板，涂敷RAM层，或贴片状RAM,或粘合复合结构,RAM薄板制成,4.2.1 RAM 衬板,a. RAM衬板的材料、形状和尺寸与标准板相同；,b.尺寸公差为±0. 10mm；,c.表面粗糙度Ra的最大允许值为6. 3/zm；,d.表面平面度小于0.10mm；,e.两表面平行度小于0. 15mm；,f.板侧面相互垂直，板侧面与板面垂直，其垂直度小于0. 10mm；,g.衬板材料的电导率大于3.50X107S/m,4. 2.2 RAM 层,a. RAM层要完全固化，性能稳定，不得产生形变,如弯曲、收缩、膨胀、脱落和散离等；,b. RAM样板侧面不得涂覆RAM；,c. RAM层厚度要均匀，不均匀度小于±5%；,d. RAM祺表面要洁净,无油污及其他杂质或附着物,无裂缝和气泡；,e. RAM层若用粘合剂与衬板粘合，则要求粘合剂薄而均匀，一致性好；,f.多层RAM,层间要粘合紧密，无间隙,4.2.3 RAM样板和标准板放置要求,a.在RAM样板上画一条直线为参考线；,b.在双天线系统中要求RAM样板的法线与入射线和反射线夹角的角平分线重合，且参,2,GJB 2038-94,考线与入射面平行或垂直；,C.在单天线系统中要求RAM样板与入射线垂直,且参考线与电场矢量平行或垂直；,d.标准板放置姿态与RAM样板相同,4.3测试系统和测试仪器,4. 3.1测试规定使用的系统硬件和测试软件要经过适当级别（院或部）的鉴定;每次测试前必,须检验,4. 3. 2测试规定使用的通用和专用仪器必须经过适当级别（所或院）检定合格，贴有合格证,并在有效期之内,4.4测试报告,4. 4.1测试报告的格式参照QJ H70o,4.4- 2报告正文部分一般含下述内容：,a.测试系统简况；,b.测试条件（含场所、背景等效反射率、测试距离、环境温度、环境湿度、频率范围和极,化）；,……
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